采用金相系列顯微鏡，配合起偏、檢偏和DIC微分干涉，能很好地觀察屏幕上的導電粒子，確定其數(shù)量是否滿足要求。第一，需要觀察導電粒子必須使用帶有DIC和起偏檢偏器的金相顯微鏡。對觀測導電微粒一般選用鏡頭要求不超過20次為好，超過后會因景深問題而造成觀測模糊，無法觀測到好的效果。金相顯微鏡和必要的屏幕準備好之后，就可以開始觀察導電粒子了。先將DIC和起偏檢偏拉出，然后將屏幕置于載物臺上，調整焦距，并通過平臺移動找到觀測位置。將起偏及檢偏器插入，通過目鏡觀察屏幕上的位置，然后重新調整檢偏器，直到光線最暗的時候停止調整。最終插入DIC，調整DIC的偏光，直到看到導電粒子的時候，它才能停止。上面是用金相顯微鏡觀察導電粒子的簡單方法。