體式顯微鏡用于電子零件\集成電路板\扭頭刀具\磁鐵和其他三維檢查和檢查。基于這些差異，需要在差異倍率條件下觀察被測物體，如何滿足這些差異要求?可以通過各個方面來處理a.光學(xué)性能b.可選擇視頻視察c.機(jī)器性能d.被測物體可以通過光源照明憑證進(jìn)行觀察，通過選擇差的目鏡\物鏡處理大倍率、大視場等問題。當(dāng)只需要大倍率時，可以通過交換大倍數(shù)量的鏡子和物鏡來滿足要求，也可以通過交換物鏡來減少視鏡。

　　當(dāng)光學(xué)放大倍數(shù)不足時，可以使用電子放大倍數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。同時，我們可以選擇視頻進(jìn)行檢查，并期望大致存儲和保存。有許多視頻方法：A.可直接通過監(jiān)管器B.能夠通過數(shù)字(通過計算機(jī)(CCD或效仿CCD圖像搜羅卡)C它可以與數(shù)碼相機(jī)相鄰此外，數(shù)碼相秘密考慮差異接口和與顯微鏡相匹配)

　　當(dāng)遇到一些焊接、裝配、大型集成電路板檢查范圍和對事物間隔的要求時，我們可以通過萬向支架、轉(zhuǎn)臂支架、大型移動平臺等機(jī)器性能進(jìn)行處理。借助他們的性能特點，我們的測試可以通過直接通過支架安靜平臺完成。沒有必要移動我們的被測對象。ABB由于被檢查的電路板相對較大，需要進(jìn)行小的傾斜檢查，電路板很難移動，只能依靠機(jī)器移動來完成檢查。通用支架的功能可以同時滿足這些使用要求。

　　光源照明在是否能看到被測物體方面起著至關(guān)重要的作用。當(dāng)然，在選擇照明時，有必要證明被測物體本身的特征(考慮到它對光的需求，強(qiáng)大\弱\反光等)選擇相應(yīng)的照明物品和照明方法。